Comet Yxlon GmbH

• Serija: FF serija
• Pramonė: automobilių pramonė, elektronika, aviacija, mokslas ir moksliniai tyrimai, puslaidininkiai, pridėtinė gamyba
• Defekto dydis: <1 µm, <50 µm, <1 mm, >1 mm
• Dalies dydis: mažas dydis, vidutinis dydis
• Veikimo režimas: 3D, 2D/3D, metrologija

• Tiksli medžiagų analizė laboratorijose
• 2D detalių matomumas iki 150 nm su 190 kV perdavimo vamzdžiu
• Tikslios manipuliacijos ir temperatūros stabilumas dėl granitinio pagrindo
• Intuityvi "Geminy" grafinė vartotojo sąsaja su jutikliniais ekranais
• Pasirenkama metrologinė versija su MPESD = 3,9 µm + L/75 [L mm]
• Neardomieji bandymai su didele energija

Kuo mažesni komponentai, tuo svarbiau gauti labai tikslius ir patikimus rentgeno ir kompiuterinės tomografijos skenavimo rezultatus kokybės užtikrinimui, procesų kontrolei ir mažų serijų patikroms. Itin kompaktiškos didelės skiriamosios gebos sistemos "Comet Yxlon FF20 CT" ir "FF20 CT Metrology" sukurtos specialiai labai smulkių detalių ir vidinių struktūrų patikrai. Naudojant palyginti didelę 190 kV energiją, net ir tankius elementus galima analizuoti iki smulkiausių detalių.

• Elektroniniai komponentai, įskaitant SMD
• Puslaidininkių pakuotės
• Baterijų elementai
• Įpurškiamas plastikas
• Produktai, kuriuose naudojamos naujos medžiagos arba nauji gamybos metodai, pvz., pridėtiniu būdu pagaminti komponentai, pluoštu sustiprintas plastikas
• Mikrosistemos (MEMS, MOEMS)
• Medicinos objektai, pvz., kaniulės
• Geologiniai, paleontologiniai ir biologiniai mėginiai

• Kokybės užtikrinimui, medžiagų analizei, medžiagų tyrimams
• Gedimų ir struktūros analizei
• Surinkimo tikrinimui
• Mažos serijinės produkcijos tikrinimui
• Proceso kontrolė
• Skaitmeninimas
• Segmentavimas