Comet Yxlon GmbH

• Serija: FF serija
• Pramonės šakos: automobilių pramonė, elektronika, aviacijos ir kosmoso pramonė, mokslas ir moksliniai tyrimai, liejyklos, puslaidininkiai, papildoma gamyba
• Defektų dydis: <1 µm, <50 µm, <1 mm, >1 mm
• Dalies dydis: mažas dydis, vidutinis dydis, didelis dydis
• Veikimo režimas: 3D, 2D/3D, metrologija

• Vieno arba dviejų vamzdelių konfigūracija, užtikrinanti didžiausią universalumą laboratorinių mikro CT taikymų srityje
• Vieno mygtuko paspaudimu per kelias sekundes perjunkite 225 kV mikrofokusavimo ir 190 kV nanofokusavimo vamzdelius
• Tikslūs rezultatai dėl manipuliavimo granito pagrindu ir oro kondicionavimo
• Taikymo lankstumas dėl įvairių KT trajektorijų ir FoV išplėtimo naudojant programinės įrangos platformą "Geminy
• Pasirenkama metrologinė versija su MPESD = 5,9 µm + L/75 [L mm]
• Galima FF35 CT SEMI versija, atitinkanti puslaidininkių rinkos standartus

Lankstus labai mažų ir vidutinio dydžio detalių tikrinimas
"Comet Yxlon FF35 CT", "FF35 CT Metrology" ir "FF35 CT SEMI" apima itin platų taikymo spektrą. Galimybės apima patobulintą medžiagų bandymą mokslinių tyrimų ir plėtros skyriuje, procesų kontrolės optimizavimą ir mažų serijų tikrinimą, taip pat įvairias mokslines programas. Dvigubo rentgeno vamzdžio sąranka leidžia didelės skiriamosios gebos CT sistemai gerokai išplėsti kokybės užtikrinimo ir mokslinių tyrimų galimybes automobilių, elektronikos, aviacijos ir medžiagų mokslo pramonėje.

• Elektroniniai komponentai, įskaitant SMD
• Gaminius, kuriuose naudojamos naujos medžiagos arba nauji gamybos metodai, pvz., adityviai gaminami komponentai, pluoštu sustiprintas plastikas
• Akumuliatorių elementai ir moduliai
• Įpurškiami plastikai
• Mikrosistemos (MEMS, MOEMS)
• Medicinos objektai, pvz., kaniulės
• Lengvųjų lydinių liejiniai
• Geologiniai, paleontologiniai ir biologiniai mėginiai

• Kokybės užtikrinimui, medžiagų analizei ir moksliniams tyrimams
• Gedimų ir struktūros analizei
• Surinkimo tikrinimui
• Mažos serijinės produkcijos tikrinimui
• Proceso kontrolei
• Skaitmeninimas
• Segmentavimas